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1.麵向高校光學工程、集成電路、智能製造、生物細胞學、電子工程中三維數據采集微、薄、透光學檢測;

2.可用於立體攝影、立體顯微術、立體影像製作;

3.可進行芯片金線檢測、偏振薄膜分層檢測;

4.無需投光、單次拍照、多維顯示;

5.Z軸重複精度達0.5μm。


案例展示

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